Temperature- and frequency-dependent optical properties of ultrathin Au films
نویسندگان
چکیده
منابع مشابه
architecture and engineering of nanoscale sculptured thin films and determination of their properties
چکیده ندارد.
15 صفحه اولOptical and transport properties of ultrathin NbN films and nanostructures
Semenov, A; Günther, B; Böttger, U; Hübers, H W; Bartolf, H; Engel, A; Schilling, A; Ilin, K; Siegel, M; Schneider, R; Gerthsen, D; Gippius, N A Semenov, A; Günther, B; Böttger, U; Hübers, H W; Bartolf, H; Engel, A; Schilling, A; Ilin, K; Siegel, M; Schneider, R; Gerthsen, D; Gippius, N A (2009). Optical and transport properties of ultrathin NbN films and nanostructures. Physical Review B, 80(5...
متن کاملTuning the Phase and Optical Properties of Ultrathin SnSx Films
Novel materials suitable for optoelectronics are of great interest due to limited and diminishing energy resources and the movement toward a green earth. We report a simple film growth method to tune the S composition, x from 1 to 2 in semiconductor ultrathin SnSx films on quartz substrates, that is, single phase SnS, single phase SnS2, and mixed phases of both SnS and SnS2 by varying the sulfu...
متن کاملcontrol of the optical properties of nanoparticles by laser fields
در این پایان نامه، درهمتنیدگی بین یک سیستم نقطه کوانتومی دوگانه(مولکول نقطه کوانتومی) و میدان مورد مطالعه قرار گرفته است. از آنتروپی ون نیومن به عنوان ابزاری برای بررسی درهمتنیدگی بین اتم و میدان استفاده شده و تاثیر پارامترهای مختلف، نظیر تونل زنی(که توسط تغییر ولتاژ ایجاد می شود)، شدت میدان و نسبت دو گسیل خودبخودی بر رفتار درجه درهمتنیدگی سیستم بررسی شده اشت.با تغییر هر یک از این پارامترها، در...
15 صفحه اولOPTICAL PROPERTIES OF THIN Cu FILMS AS A FUNCTION OF SUBSTRATE TEMPERATURE
Copper films (250 nm) deposited on glass substrates, at different substrate temperatures. Their optical properties were measured by ellipsometery (single wavelength of 589.3 nm) and spectrophotometery in the spectral range of 200–2600 nm. Kramers Kronig method was used for the analysis of the reflectivity curves of Cu films to obtain the optical constants of the films, while ellipsometery measu...
متن کاملذخیره در منابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ژورنال
عنوان ژورنال: Physical Review B
سال: 2008
ISSN: 1098-0121,1550-235X
DOI: 10.1103/physrevb.78.205409